<図書>

LSI コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー

LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著

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本郷キャンパス

配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 文庫区分 刷 年 コメント
工2・図書室
549.7:N73 1011557525


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出版者 東京 : 工業調査会
出版年 2007.11
大きさ 221p, 図版[7]p : 挿図 ; 22cm
別書名 標題紙タイトル:LSI failure analysis
異なりアクセスタイトル:LSI故障解析技術のすべて : 開発促進歩留向上信頼性向上のキーテクノロジー
一般注記 参考文献: p[205]-214
著者標目 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ>
件 名 BSH:集積回路
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
本文言語 日本語
書誌ID 2002915030
ISBN 9784769312697
NCID BA84153482 WCLINK

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