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Semiconductor memories : technology, testing, and reliability / Ashok K. Sharma

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本郷キャンパス

配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 文庫区分 刷 年 コメント
工2・電子情研
830:764 2310043456


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出版者 New York : IEEE Press
出版年 c1997
大きさ xii, 462 p. : ill. ; 26 cm
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 *Sharma, Ashok K.
件 名 LCSH:Semiconductor storage devices
分 類 LCC:TK7895.M4
DC20:621.39/732
本文言語 英語
書誌ID 2001791108
ISBN 0780310004
NCID BA28643419 WCLINK

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