<図書>

Characterization methods for submicron MOSFETs / edited by Hisham Haddara

(The Kluwer international series in engineering and computer science;SECS 352 . Analog circuits and signal processing)

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本郷キャンパス

配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 文庫区分 刷 年 コメント
工2・図書室
549.6:H11 1010733358


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出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年 c1995
大きさ vii, 232 p. : ill. ; 24 cm
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Haddara, Hisham
件 名 LCSH:Metal oxide semiconductor field-effect transistors -- Mathematical models
LCSH:Electronic circuit design
分 類 LCC:TK7871.95
DC20:621.3815/284
本文言語 英語
書誌ID 2000493884
ISBN 0792396952
NCID BA27762649 WCLINK

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