<図書>

Assessing fault model and test quality / by Kenneth M. Butler and M. Ray Mercer

(The Kluwer international series in engineering and computer science;SECS 157 . VLSI, computer architecture, and digital signal processing)

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本郷キャンパス

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理7・CS図
HR:6 2012384984

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出版者 Boston : Kluwer Academic
出版年 c1992
大きさ xviii, 132 p. : ill. ; 24 cm
一般注記 Includes bibliographical references (p. [109]-125) and index
著者標目 *Butler, Kenneth M., 1962-
Mercer, Melvin Ray
件 名 LCSH:Digital integrated circuits -- Testing
LCSH:Fault-tolerant computing
分 類 LCC:TK7874
DC20:621.381/5
本文言語 英語
書誌ID 2000255438
ISBN 0792392221
NCID BA17048027 WCLINK

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