<図書>

Neural models and algorithms for digital testing / by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell

(The Kluwer international series in engineering and computer science;SECS 140 . VLSI, computer architecture and digital signal processing)

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本郷キャンパス

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理7・CS図
HR:4 2012362824

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出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年 c1991
大きさ xii, 184 p. : ill. ; 25 cm
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 *Chakradhar, Srimat T.
Agrawal, Vishwani D., 1943-
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-
件 名 LCSH:Logic circuits -- Testing
LCSH:Automatic checkout equipment
LCSH:Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing
分 類 LCC:TK7868.L6
DC20:621.39/5
本文言語 英語
書誌ID 2000248007
ISBN 0792391659
NCID BA12943049 WCLINK

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