<図書>

Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu

(The Kluwer international series in engineering and computer science;SECS 88 . VLSI, computer architecture and digital signal processing)

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本郷キャンパス

配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 文庫区分 刷 年 コメント
工2・電気
830:502:D 1010362232


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出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年 c1990
大きさ xii, 231 p. : ill. ; 25 cm
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 *Jha, Niraj K.
Kundu, Sandip
件 名 LCSH:Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing
LCSH:Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability
LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
分 類 LCC:TK7871.99.M44
DC20:621.39/732
本文言語 英語
書誌ID 2000244178
ISBN 0792390563
NCID BA09889761 WCLINK

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