<図書>

Unified methods for VLSI simulation and test generation / by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal

(The Kluwer international series in engineering and computer science;SECS 73 . VLSI, computer architecture and digital signal processing)

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本郷キャンパス

配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 文庫区分 刷 年 コメント
工2・図書室
549.7:C38 1010185914


理7・CS図
35:C:2 2012245748

5048

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出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年 c1989
大きさ xii, 148 p. : ill. ; 25 cm
一般注記 At head of title: AT & T
Bibliography: p. [113]-143
Includes index
著者標目 *Cheng, Kwang-Ting
Agrawal, Vishwani D., 1943-
件 名 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Data processing
LCSH:Computer-aided design
LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Computer simulation
分 類 LCC:TK7874
DC20:621.39/5
本文言語 英語
書誌ID 2000115204
ISBN 0792390253
NCID BA07295788 WCLINK

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